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低溫試驗(yàn)箱
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國(guó)內(nèi)環(huán)境實(shí)驗(yàn)設(shè)備的現(xiàn)狀
點(diǎn)擊次數(shù):1564 更新時(shí)間:2010-02-26 返回
目前國(guó)內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備大多是為了滿足國(guó)標(biāo)GB2423 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程》而生產(chǎn)的,這些環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備現(xiàn)都有相應(yīng)的產(chǎn)品國(guó)標(biāo),如
GB10586-89《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10589-89《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。
八十年代以前,我國(guó)使用的大多數(shù)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備都是從西方國(guó)家引進(jìn)的,價(jià)格比較昂貴,而如今,隨著電子技術(shù)的發(fā)展,特別是控制技術(shù)的發(fā)展,從模擬控制到現(xiàn)在的數(shù)字控制;顯示方式從指針到數(shù)字再到現(xiàn)在的觸摸屏顯示;控制精度從±1℃提高到0.1℃甚至于0.01℃之內(nèi);設(shè)備體積從很小的箱體,到幾百立方大的房(室),我國(guó)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠家已經(jīng)能生產(chǎn)符合試驗(yàn)要求的設(shè)備。性能可以與進(jìn)口設(shè)備相媲美,而價(jià)格只有進(jìn)口設(shè)備一半左右。但某些特殊設(shè)備,如溫度沖擊設(shè)備、溫度快速變化(15℃/min)還不能國(guó)產(chǎn)化或生產(chǎn)的設(shè)備不能符合要求。